Dokuz Eylül Üniversitesi Ders Katoloğu / Bilgi Paketi

Ders Bilgileri

Ders Kodu	Ders Adı	Ders Türü	D	U	L	AKTS
NNE 5019	Nanometroloji - I	SEÇMELİ	3	0	0	8

Dersi Veren Birim

Fen Bilimleri Enstitüsü

Dersin Düzeyi

Yüksek Lisans

Ders Koordinatörü

PROF.DR. EVREN MELTEM TOYGAR

Dersi Alan Birimler

Nanobilim ve Nanomühendislik Doktora
Nanobilim ve Nanomühendislik Yüksek Lisans
Nanobilim ve Nanomühendislik Bütünleşik Doktora

Dersin Amacı

Nanoteknolojisi ile üretim, nanometrik toleranslar ile tasarlanmış yüzey şekilleri/boyutlarının imal edilebilmesi için, hassas alet hareketlerine sahip makinelerin kullanıldığı bir üretim süreçtir. Parça ve makinelerin ölçümleri kalite kontrol için çok önemli bir süreçtir. Dolayısıyla nanoteknoloji imalat prosesinde ölçümlerdeki hassasiyet diğer imalat proseslerine göre çok daha fazla önem arz eder. Bu dersin amacı öğrencilere Nanoteknoloji ile üretimde, Nanometroloji tekniklerini ve yaklaşımlarını uygulama ile birlikte vermektir.

Dersin Öğrenme Kazanımları

1	Nanoteknoloji ile üretimde geometrik özelliklerin ölçümleri ve hassasiyet öneminin
2	Nanoteknoloji ile üretimde açı sensörü ve lazer teknolojileri ile ölçüm bilgilerinin verilmesi
3	Nanoteknoloji ile üretimde düzlem hareketlerinin ölçümü bilgilerinin verilmesi
4	Nanoteknoloji ile üretimde mikro boyutların ölçümü bilgilerinin verilmesi
5	Nanoteknoloji ile üretimde 3 boyutlu nano yapıların ölçümü bilgilerinin verilmesi
6	Nanoteknoloji ile üretimde mikro boyutların ölçümü için görüntü algılayıcı tarama ölçümü

Dersin Öğretim Türü

Örgün Öğretim

Dersin Önkoşulu/Önkoşulları

Yok

Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar

Yok

Ders İçeriği

Hafta	Konular	Açıklama
1	Açı sensörü ile ölçüm, eğimli yüzey ve eğim hareketleri
2	Çok eksenli eğim hareket ölçümü için lazer otokolimatör
3	Düzlem hareket ölçümü için yüzey kodlama.
4	Düzlem içi ve düzlem dışı hareket ölçümü için kafes kodlama
5	Dairesellik ölçümü için çok uçlu tarama sistemi
6	Doğrusallık ölçümü için hata ayırma tarama sistemiLaboratuar uygulamaları - doğrusallık ölçümü için hata ayırma tarama sistemi
7	Mikro-yuvarlaklık ölçümü için micro-iğne uç tarama sistemi
8	Mikro dokulu yüzeyler için geniş alan taramalı uç mikroskobu
9	Mikro dokulu yüzeyler için geniş alan taramalı uç mikroskobu
10	Ara sınav
11	3 boyutlu nanoyapıların ölçümü için otomatik hizalama taramalı uç mikroskobu sistemi
12	Proje Sunumu
13	Proje Sunumu
14	Proje Sunumu

Ders İçin Önerilen Kaynaklar

Gao, Wei, Precision Nanometrology Sensors and Measuring
Systems for Nanomanufacturing Springer London Dordrecht Heidelberg New York, 2010.

Öğrenme ve Öğretme Yöntemleri

Bu ders, anlatımı ve tartışma biçiminde yapılacaktır. Tüm öğrencilerin derslere ve tartışma oturumlarına katılmaları gerekmektedir. Dersin yanı sıra, grup sunumları o hafta için atanan gruplar tarafından hazırlanacak ve sunulacaktır.

Değerlendirme Yöntemleri

SIRA NO	KISA KOD	UZUN ADI	FORMUL
1	ARS	ARASINAV
2	PRJ	PROJE
3	YSS	YIL SONU SINAVI
4	YSBN	YIL SONU BAŞARI NOTU	ARS * 0.35 + PRJ * 0.15 + YSS * 0.50
5	BUT	BÜTÜNLEME
6	BUTBN	BÜTÜNLEME SONU BAŞARI NOTU	ARS * 0.35 + PRJ * 0.15 + BUT * 0.50

*** Bütünleme Sınavı Yapılmayan Birimlerde Bütünleme Kriteri Dikkate Alınmaz.

Değerlendirme Yöntemlerine İliskin Aciklamalar

Yok

Değerlendirme Kriteri

Dersin uygulamalar bölümünde ise iki ödev hazırlanacaktır. Ödevlerin ortalaması bir not olarak kabul edilecek, dersin bir ara sınav notuyla birlikte, üç notun ortalaması yıl içi notunu belirleyecektir. Ödev notu ortalamasının % 15 i, yıl içi notunun % 35 i ve yarıyıl sonu sınav notunun % 50 si başarı notunu belirleyecektir.

Dersin Öğretim Dili

İngilizce

Derse İlişkin Politika ve Kurallar

İlan Edilecektir.

Dersin Öğretim Üyesi İletişim Bilgileri

evren.toygar@deu.edu.tr

Ders Öğretim Üyesi Görüşme Gün ve Saatleri