DERS ADI

: İLERİ KARAKTERİZASYON VE MODİFİKASYON TEKNİKLERİ

Ders Bilgileri

Ders Kodu Ders Adı Ders Türü D U L AKTS
MME 5026 İLERİ KARAKTERİZASYON VE MODİFİKASYON TEKNİKLERİ SEÇMELİ 3 0 0 9

Dersi Veren Birim

Fen Bilimleri Enstitüsü

Dersin Düzeyi

Yüksek Lisans

Ders Koordinatörü

PROFESÖR ALİ BÜLENT ÖNAY

Dersi Alan Birimler

Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Yüksek Lisans
Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Doktora

Dersin Amacı

Bu dersin temel amacı, mühendislik malzemelerinin araştırma ve geliştirilmesinde kullanılan bazı modern karakterizasyon cihazlarının çalışma prensipleri ile kullanım yöntemlerinin öğrenciler tarafından tanınması ve cihazlardan alınan verilerin değerlendirilmesinin yapılmasıdır. Diğer bir amaç da, karakterizasyon çalışmalarında yararlanılan bazı malzeme yüzey işlemlerinin belirlenmesidir.

Dersin Öğrenme Kazanımları

1   Karakterizasyon cihazlarının çalışma prensiplerini açıklayabilmek
2   Karakterizasyon cihazlarının kullanım yöntemlerini betimleyip gösterebilmek
3   Bu cihazlardan elde edilen verileri yorumlayarak değerlendirmesini yapabilmek
4   Karakterizasyon çalışmalarında kullanılan yüzey modifikasyon yöntemlerini tanıyabilmek
5   Malzemeleri konu alan çalışmalarda gerekecek karakterizasyon cihaz türünü belirleyebilmek

Dersin Öğretim Türü

Örgün Öğretim

Dersin Önkoşulu/Önkoşulları

Yok

Ders İçin Önerilen Diğer Hususlar

Yok

Ders İçeriği

Hafta Konular Açıklama
1 İleri Karakterizasyon Tekniklerinin Tanıtımı
2 Karakterizasyon cihazlarının çalışma prensipleri
3 Bazı temel laboratuar kontrol/destek cihazlarının tanıtımı
4 Taramalı Elektron Mikroskobunun (SEM) yapısı ve görüntü oluşumu
5 EDS yöntemiyle kalitatif analiz
6 EDS yöntemiyle kantitatif analiz
7 X-ışınları Difraksiyonu (XRD) ile karakterizasyonun temelleri
8 XRD ile Faz/Kristal analizi ve sonuçlarının değerlendirilmesi
9 XRF ve EPMA yöntemleriyle karakterizasyon
10 OES yöntemleriyle kimyasal karaterizasyon
11 Diğer yöntemlerle (AFM, Auger, SIMS) analiz
12 Yüzey Modifikasyon Teknikleri (PVD, CVD, Sputtering)
13 Öğrenci sunumları 1
14 Öğrenci sunumları 2

Ders İçin Önerilen Kaynaklar




Kitaplar
1. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, J.I.Goldstein, et.al, Plenum
Press, New York, 1981.
2. Elements of X-Ray Diffraction, B.D.Cullity, Addison-Wesley Publishers, 1978.

Diğer Kaynaklar
1. The Operation of the Transmission Electron Microscopy, D.Chescoe and P.J.Goodhew,
Royal Microscopical Society,1984.
2. Light-Element Analysis in the TEM; WEDS and EELS, Royal Microscopical Society,1988.
3. Techniques of Materials Research, vol.4, R.A.Rapp, editor, John Wiley and Sons
Publishing, 1970.
4. Metals Handbook vol.10 Materials Characterization, ASM International.

Öğrenme ve Öğretme Yöntemleri

Ders anlatım + Termpaper + Sunum + Final sınavı

Değerlendirme Yöntemleri

SIRA NO KISA KOD UZUN ADI FORMUL
1 RAP RAPOR
2 SUN SUNUM
3 YSS YIL SONU SINAVI
4 YSBN YIL SONU BAŞARI NOTU RAP * 0.25 + SUN * 0.25 + YSS * 0.50
5 BUT BÜTÜNLEME
6 BUTBN BÜTÜNLEME SONU BAŞARI NOTU RAP * 0.25 + SUN * 0.25 + BUT * 0.50


Değerlendirme Yöntemlerine İliskin Aciklamalar

Değerlendirme yöntemlerinde belirtilen "Termpaper" yöntemi, dönem içinde öğrencilerin ders konularıyla ilgili olarak hazırlayacakları birkaç farklı raporu kapsamaktadır.

Değerlendirme Kriteri

Termpaper %25 ÖÇ 2, 3, 5
Sunum %25 ÖÇ 1, 2, 3, 4
Final %50 ÖÇ 1 - 5

Dersin Öğretim Dili

İngilizce

Derse İlişkin Politika ve Kurallar

İlan Edilecektir.

Dersin Öğretim Üyesi İletişim Bilgileri

Doç.Dr. Bülent Önay
bulent.onay @deu.edu.tr

Ders Öğretim Üyesi Görüşme Gün ve Saatleri

Cuma 15:30 - 16:00

Staj Durumu

YOK

İş Yükü Hesaplaması

Etkinlikler Sayısı Süresi (saat) Toplam İş Yükü (saat)
Ders Anlatımı 12 3 36
Sunumlar 2 3 6
Sunum Hazırlama 1 10 10
Final Sınavına Hazırlık 1 9 9
Haftalık Ders öncesi/sonrası hazırlıklar 12 8 96
Termpaper Hazırlama 8 7 56
Final Sınavı 1 3 3
TOPLAM İŞ YÜKÜ (saat) 216

Program ve Öğrenme Kazanımları İlişkisi

PK/ÖKPK.1PK.2PK.3PK.4PK.5PK.6PK.7PK.8PK.9PK.10PK.11PK.12PK.13PK.14
ÖK.133323
ÖK.233323
ÖK.333323
ÖK.433323
ÖK.533323